X射線熒光光譜儀

X射線熒光光譜儀NEX QC是低成本能量色散X射線熒光（EDXRF）分析儀，用于固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析。

作為一款低成本的臺式能量色散X射線熒光（EDXRF）元素分析儀，Rigaku理學NEX QC熒光光譜儀在堅固的包裝中提供廣泛的元素覆蓋，配備易于學習的軟件界面，專為工業現場質量控制應用而設計。能夠非破壞性地分析幾乎任何基體中的元素，從鈉（Na）到鈾（U），包括固體、合金、粉末、液體、漿料和薄膜。

產品優勢

具有智能手機界面的直觀軟件

Rigaku提供的硬化高分辨率觸摸顯示屏，薄膜鍵盤和落后的顯示屏現已成為過去。操作NEX QC系列元素分析儀給人以熟悉的感覺，可用手指選擇的圖標能夠引導用戶完成常規分析操作。智能手機界面技術降低了擁有成本，因為它簡化了操作員培訓并減少了操作員出錯的可能性。

硅漂移檢波器技術

硅漂移檢波器(SDD)可實現極高的計數率，并具有出色的光譜分辨率。這使NEX QC+能夠在盡可能短的測量時間內提供最高精度的分析結果。SDD獨特的工程特征是一系列環形電極生成的模截場，它會迫使電荷載體“漂移”到一個小集電極處。電流生成SDD檢波器將場效應晶體管(FET)移動到輻射軌跡外，代表了傳統EDXRF檢波器技術的最尖端水平。

計算敏捷性

除了具有極強的易用性外，每個RigakuNEX QC系列元素分析儀還有運行在嵌入式計算機上的精密軟件為其提供支持。經驗校準曲線可以是線性、二次或雙曲線擬合。此外，為了補償其他元素的存在，還可以啟用基于強度或濃度的阿爾法(α)校正（在有足夠的標準樣時自動計算）。還提供有C/H校正，以補償輕元素矩陣變化和/或平均原子數變化。所有的校準功能都可以通過用手指觸摸直觀的圖標進行訪問。提供可選的基本參數(FP)包。

X射線光學器件

NEX QC系列采用50kVX射線管和帕爾貼制冷的半導體檢測器技術，可提供卓越的短期重復性和長期重復性，具有優異的元素峰分辨率。高電壓，以及多個自動X射線管過濾器，提供了多元素分析能力，實現無與倫比的性能與最小檢測量(LOD)。光學器件由無需工具便可更換的安全膜保護。

X射線管的保護

通過僅在數據收集過程中操作，將X射線管的磨損減到最低—從而降低運營成本。

基本參數選項

顯著減少了實施高質量校準所需的標準樣數量；這在難以獲得標準樣或者許多元素獨立變化的復雜基質情況下特別有用。

內置打印機

熱敏打印機可以在您需要時隨時隨地提供快速的打印分析結果。

免工具安全膜

不需要使用工具便可更換安全膜，從而保護了光學內核并簡化和加快了更換過程。

可拆卸的樣品盤

可預先加載以及調入和調出可互換的選配自動進樣器托盤，以提高效率或在吞吐量是重要考量的情況下使用。支持32mm和40mm杯。

單一位置或自動進樣器

標準的單一位置配置可以添加一個選配的自動進樣器。

工作原理

在X射線熒光法(XRF)中，X射線管吸收光（光子）會使電子從其原子軌道中射出。光子的能量(hν)必須大于電子與原子核結合的能量。當內軌道電子從原子中射出時（中間圖像），更高能級軌道的電子會進行轉移以填補空出的軌道。轉移過程中可能會射出光子（右側圖像）。由于特定元素兩個特定軌道殼之間的能量差始終相同，因此射出的光子始終具有相同的特征能量(keV)。對熒光發射譜線而言，給定元素單位時間光子數（每秒計數，簡稱cps）與樣品中該元素的含量有關。通過測量規定時間內觀測到的各種元素X射線熒光譜線所檢測到的光子數（光譜峰數）來計算計數率。因此，定性和定量元素分析通過測定樣品光譜中X射線峰的能量以及測量它們的相關計數率來實現。

應用行業